BS 3762 Sec.3.1-1990 配制洗涤剂分析.第3部分:定量试验法.第1节:阴离子活性物质含量的测定方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-20 05:50:43 浏览:8233
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【英文标准名称】:Analysisofformulateddetergents.Quantitativetestmethods.Methodfordeterminationofanionic-activemattercontent
【原文标准名称】:配制洗涤剂分析.第3部分:定量试验法.第1节:阴离子活性物质含量的测定方法
【标准号】:BS3762Sec.3.1-1990
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1990-06-29
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:清洗材料;洗涤剂;阴离子;试样制备;试验设备;化学分析和试验;表面活性剂;试验条件;含量测定;再现性;干扰(化学);标准溶液;容量分析
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y43
【国际标准分类号】:
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Non-destructivetesting-X-raydiffractionfrompolycrystallineandamorphousmaterials-Procedures
【原文标准名称】:无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.程序
【标准号】:BSEN13925-2-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-03-20
【实施或试行日期】:2003-03-20
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:射线摄影;无损的;测量装置;规程;材料试验;检验;试件;方法试验;X射线衍射分析;方法;材料;无损检验;试验装置;安全要求;非晶体的;测量;试验
【英文主题词】:Amorphous;Inspection;Materials;Materialstesting;Measurement;Measuringdevices;Methodtesting;Methods;Non-destructive;Non-destructivetesting;Procedures;Radiographs;Runoftheprocess;Safetyrequirements;Testpieces;Testing;Testingdevices;X-raydiffraction;X-raydiffractionanalysis
【摘要】:ThisEuropeanStandardspecifiesthebasicproceduresappliedintheX-rayPowderDiffraction(XRPD)method.ManyoftheseproceduresarecommontomosttypesofdiffractometerusedandtypesofanalysismentionedinEN13925-1.IntheinterestsofclarityandimmediateusabilitymoredetailsaregivenforproceduresusinginstrumentswithBragg-Brentanogeometryandapplicationtophaseidentification.Aspectsofspecimenpreparationanddataqualityassessmentareincluded,butthestandardremainsnon-exhaustive.Itisanticipatedthatparticularstandardswilladdressspecificfieldsofapplicationinmoredetails.
【中国标准分类号】:H26
【国际标准分类号】:19_100
【页数】:26P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Visualinspectionforsiliconwaferswithspecularsurfaces
【原文标准名称】:镜面硅片的目视检查
【标准号】:JISH0614-1996
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1996-01-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄膜;镜子;检验;表面性质;无损检验;镜面反射;膜(物态);硅;外观检查(试验);衬底(绝缘)
【英文主题词】:visualinspection(testing);non-destructivetesting;inspection;;;thinfilms;;specularreflection;mirrors;surfaceproperties
【摘要】:この規格は,半導体素子を形成することを目的としたシリコンウェーハをケミカル·メカニカルポリッシュによって鏡面加工仕上げしたウェーハ(以下,ウェーハという。)の表面(鏡面及び裏面)の目視による外観検査について規定する。
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:29_045;77_120_99
【页数】:8P;A4
【正文语种】:日语
